鑄鐵平板的平面度該如何測量？泊鑄推薦方法如下
2017年03月24日
新聞詳情
用光學儀器測量鑄鐵平板平面度的測量方法，將平面掃描儀架在被測平臺上，目標I、目標II、目標III圍繞測微準直望遠鏡放置，且平行于支腳AC和BC的連線，把光學頭轉向目標I，并把望遠鏡調焦到目標I上，調整支腳B的調整螺釘，使望遠鏡十字線初步對準目標I上條紋。再轉向目標III調整掃描儀的測微鼓輪，使目標III接近望遠鏡十字線。光學頭轉向目標II，調整支腳A的調整螺釘，使望遠鏡十字線與目標II對中，經反復調整支腳高度和測微鼓輪，使望遠鏡十字線與三目標對中，建立了基準面，將目標IV放在要測量位置，用平面掃描儀的光學測微器讀出該位置對基準面的偏差。適合鑄鐵平板/鑄鐵平臺的平面度測量，通用性強、速度快、測量度高。
鑄鐵平板平面度誤(wu)差的(de)測量：
平面度誤(wu)差的(de)測量方法很多，常用的(de)有(you)如下所列的(de)方法：
①光(guang)(guang)隙(xi)法(fa)：將被(bei)測直線和測量基線間形成的(de)(de)光(guang)(guang)隙(xi)，與標準光(guang)(guang)隙(xi)比較，測量不(bu)同方(fang)向的(de)(de)若干個截面(mian)上的(de)(de)直線度誤差(cha)，取其中大值，作為平(ping)面(mian)度誤差(cha)近似值的(de)(de)方(fang)法(fa)。該方(fang)法(fa)適用于(yu)磨削或研磨加工的(de)(de)小平(ping)面(mian)的(de)(de)鑄鐵平(ping)板平(ping)面(mian)度誤差(cha)測量。
②指(zhi)示(shi)器(qi)(qi)法：將被測零件支(zhi)撐在測量(liang)平(ping)(ping)(ping)板(ban)上，鑄(zhu)鐵平(ping)(ping)(ping)板(ban)工作(zuo)面(mian)為(wei)測量(liang)基準，按(an)一定(ding)的方(fang)(fang)式布點，用指(zhi)示(shi)器(qi)(qi)對被測面(mian)上各點進行測量(liang)并記錄所測數據，然后，按(an)一定(ding)的方(fang)(fang)法評(ping)定(ding)其誤(wu)差(cha)(cha)值。該方(fang)(fang)法適用于中、小平(ping)(ping)(ping)面(mian)的鑄(zhu)鐵平(ping)(ping)(ping)板(ban)平(ping)(ping)(ping)面(mian)度(du)誤(wu)差(cha)(cha)測量(liang)。
③光軸(zhou)法：以(yi)幾(ji)何(he)光軸(zhou)建立測(ce)量(liang)基面(mian)，測(ce)出被測(ce)面(mian)相對測(ce)量(liang)基面(mian)的(de)(de)偏離量(liang)，進而評定鑄鐵平(ping)(ping)板(ban)平(ping)(ping)面(mian)度誤差(cha)(cha)值的(de)(de)方(fang)法，該(gai)方(fang)法適用于(yu)一般度大平(ping)(ping)面(mian)的(de)(de)鑄鐵平(ping)(ping)板(ban)平(ping)(ping)面(mian)度誤差(cha)(cha)測(ce)量(liang)。
④干(gan)涉法：利用光(guang)波干(gan)涉原(yuan)理(li)，根(gen)據干(gan)涉條紋形(xing)狀、條數(shu)，來確(que)定平面度誤(wu)差值的方(fang)法，該(gai)方(fang)法適(shi)用于(yu)研表面的鑄鐵平板(ban)平面度誤(wu)差測量。
⑤三(san)坐(zuo)標測(ce)(ce)量(liang)機(ji)(ji)(ji)：三(san)坐(zuo)標測(ce)(ce)量(liang)機(ji)(ji)(ji)是綜合利(li)用jingmi機(ji)(ji)(ji)械、微(wei)電子、光柵(zha)和激光干涉儀(yi)等技(ji)術的(de)測(ce)(ce)量(liang)儀(yi)器，其原(yuan)理是在三(san)個相(xiang)互(hu)垂直的(de)方(fang)向(xiang)上，有導向(xiang)機(ji)(ji)(ji)構、測(ce)(ce)長元件、數(shu)(shu)顯裝(zhuang)置，有一個能夠(gou)放置工(gong)件的(de)工(gong)作臺，測(ce)(ce)頭可(ke)以(yi)以(yi)手動或(huo)機(ji)(ji)(ji)動方(fang)式，輕快地(di)移動到被測(ce)(ce)點上，由讀數(shu)(shu)設備(bei)和數(shu)(shu)顯裝(zhuang)置，把被測(ce)(ce)點的(de)坐(zuo)標值(zhi)顯示(shi)出來的(de)一種測(ce)(ce)量(liang)設備(bei)。
除上面介紹的(de)幾種方法(fa)外，還有液面法(fa)、自準直儀(yi)法(fa)等，鑄鐵(tie)平板生產廠家(jia)常(chang)采(cai)用光學合像水(shui)平儀(yi)測定測量平板的(de)平面度誤差。
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